蛍光X線の用途

原子番号13(Al)以上の金属の膜厚を測定します。二層めっき、三層めっき各々の膜厚の同時測定や合金皮膜の膜厚・組成同時測定も可能です。

蛍光Ｘ線分析装置(XRF)とは、分析対象物にＸ線を照射した際の蛍光Ｘ線スペクトルによって、元素の含有量を解析する分析装置です。

一貫性のある高品質のめっきに不可欠な3つの重要な指標すべてを測定します。めっき液の濃度、堆積物の厚さ、サンプルの組成。

Bowman XRFシステムは、RoHS3指令の対象となる有害物質を迅速かつ正確に特定するという重要なタスクに最適です。